Ан­дрю­хин А.И.

В ста­тье пред­став­ле­ны ос­нов­ные этапы раз­ви­тия и про­бле­мы те­сто­во­го ди­а­гно­за циф­ро­вых схем. Ос­нов­ная мо­дель в ди­а­гно­сти­ке би­по­ляр­ных схем рас­смат­ри­ва­ет­ся. Ее свой­ства и недо­стат­ки опи­са­ны для ди­а­гно­сти­ке со­вре­мен­ных МОП СБИС. Ос­нов­ные про­бле­мы те­сти­ро­ва­ния МОП струк­тур рас­смот­ре­ны. Обзор работ при про­ек­ти­ро­ва­нии те­сто­при­год­ных схем пред­став­лен. Под­черк­ну­та важ­ность пра­виль­ной оцен­ки ос­цил­ля­ций при мо­де­ли­ро­ва­нии неис­прав­ных устройств. Ре­зуль­та­ты мо­де­ли­ро­ва­ния на пе­ре­клю­ча­тель­ном уровне МОП-струк­тур также пред­став­ле­ны. Ос­нов­ные на­прав­ле­ния по­стро­е­ния тран­зи­сто­ров но­во­го по­ко­ле­ния рас­смот­ре­ны. Клю­че­выесло­ва: тест, ди­а­гно­сти­ка, КМОП, те­сто­при­год­ная, IDDQ.

За­гру­зить (pdf)